為獲取紫外老化試驗箱較好的信號比輸出，要對一組測量進行平均技術(shù)，通常這需要200~2000次數(shù)據(jù)平均才可能獲得較好的信號比輸出。對于直流電壓測試，使用500Hz高壓脈沖發(fā)生器和2000次數(shù)據(jù)平均大約需要的測量時間為4s，這個時間過程對于電荷衰減過程中捕捉非常快速衰減電荷的過程是不足夠的。同樣，對于交流50Hz正弦波形，假定需要500組數(shù)據(jù)進行平均，如果一個波形上進行16個點的測量總共需要8000 個循環(huán)周期(16×500=8000)，這將總共耗時160s(8000×20ms)。這些數(shù)十秒的測量時間將對材料體內(nèi)的陷阱電荷的準確幅值和位置的準確獲取變得十分困難。

　　電源頻率對交流空間電荷測量的限制，當使用上述傳統(tǒng)的PEA系統(tǒng)進行交流空間電荷測量時，常用的一種方法就是波形取點(point on wave，POW)法，電腦能直接同時控制高壓電源和高壓脈沖電源的觸發(fā)，這使得在交流電壓波形上選取特定的點進行同步的空間電荷測量成為可能。

 

　　對紫外老化試驗箱交流電壓波形的不同相位進行測量將會產(chǎn)生不同電壓幅值，如果施加的交流電壓頻率很低，比如少于0.05Hz，輸出的電壓幅值變化很小，這就與直流下的情況類似。但當外加電壓頻率很高時，使用機械繼電器開關(guān)和波形取點法的21缺點就很明顯了。